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Cover von Applied logistic regression

Applied logistic regression
Verfasser: Hosmer, David W. ; Lemeshow, Stanley Suche nach diesem Verfasser
Medienkennzeichen: Lehrbuch
Jahr: 2000
Verlag: New York [u.a.], Wiley
Mediengruppe: Monographie
Cover von Statistical Tolerance Regions

Statistical Tolerance Regions
Theory, Applications, and Computation
Verfasser: Krishnamoorthy, Kalimuthu [Verfasser]; Mathew, Thomas [Verfasser] Suche nach diesem Verfasser
Medienkennzeichen: Lehrbuch
Jahr: 2009
Verlag: Chichester, Wiley-Blackwell
Mediengruppe: Monographie
OPEN V 11.0.0.0